方塊電阻測試方法
發布時間： 2023-08-20 21:57:52 點擊： 1429
方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值，該數值大小可直接換算為熱紅外輻射率。方塊電阻的大小與樣品尺寸無關，其單位為Siements/sq，后增加歐姆/sq表征方式，該單位直接翻譯為方塊電阻或者面電阻，用于膜層測量又稱為膜層電阻。
方塊電阻通常采用四探針法進行測量。四探針法是一種常用的測量薄膜材料電阻的測試方法，通過四個探針同時接觸樣品表面來測量電阻率。這種方法可以有效避免因探針與樣品接觸不良所導致的測量誤差，能夠準確地測量出低阻值材料的電阻率。
在方塊電阻的測試中，四探針法通常采用等間距的探針排列方式，即探針之間的距離相等。測試時，將樣品放置在測試平臺上，然后通過控制器驅動四個探針以相同的速度同時向樣品表面靠近，直到接觸到樣品表面。此時，測試儀器會自動記錄四個探針之間的電阻值，并通過計算得出樣品的方塊電阻值。
需要注意的是，在采用四探針法進行方塊電阻測試時，需要選擇合適的探針間距和壓力，以確保測試結果的準確性和重復性。此外，還需要對測試儀器進行定期的校準和維護，以保證測試結果的可靠性。
方塊電阻通常采用四探針法進行測量。四探針法是一種常用的測量薄膜材料電阻的測試方法，通過四個探針同時接觸樣品表面來測量電阻率。這種方法可以有效避免因探針與樣品接觸不良所導致的測量誤差，能夠準確地測量出低阻值材料的電阻率。
在方塊電阻的測試中，四探針法通常采用等間距的探針排列方式，即探針之間的距離相等。測試時，將樣品放置在測試平臺上，然后通過控制器驅動四個探針以相同的速度同時向樣品表面靠近，直到接觸到樣品表面。此時，測試儀器會自動記錄四個探針之間的電阻值，并通過計算得出樣品的方塊電阻值。
需要注意的是，在采用四探針法進行方塊電阻測試時，需要選擇合適的探針間距和壓力，以確保測試結果的準確性和重復性。此外，還需要對測試儀器進行定期的校準和維護，以保證測試結果的可靠性。
上一頁：電阻率測試方法
下一頁：表面電阻測試方法及標準
